近幾年,13.56MHz的高頻RFID技術(shù)由于性能穩(wěn)定、價(jià)格合理,此外其讀取距離范圍和實(shí)際應(yīng)用的距離范圍相匹配,因而在公交卡、手機(jī)支付方面的應(yīng)用得到廣泛的應(yīng)用,尤其是在韓國(guó)、日本等地。下面兩張圖片,圖1為韓國(guó)某餐館用手機(jī)支付就餐費(fèi)用的實(shí)例,圖2為電子標(biāo)簽貼合在手機(jī)電池上的圖片。
圖2:手機(jī)電池上的13.56MHz電子標(biāo)簽
圖3:手機(jī)電池上的13.56MHz電子標(biāo)簽結(jié)構(gòu)圖
然而,隨著RFID的應(yīng)用日漸廣泛, 其干擾破壞問(wèn)題越來(lái)越突出。其破壞作用主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面:1>識(shí)別距離遠(yuǎn)低于設(shè)計(jì)距離; 2>讀卡器和電子標(biāo)簽不響應(yīng),讀取失敗。在實(shí)際的高頻RFID電子標(biāo)簽應(yīng)用中,我們需要著重考慮13.56MHz的RFID電子標(biāo)簽的貼合位置,由于標(biāo)簽尺寸較大,而實(shí)際允許的空間有限等原因,電子標(biāo)簽需要直接貼附在金屬表面上或同金屬器件相臨近的位置,如手機(jī)用的13.56MHz的RFID智能標(biāo)簽,因?yàn)榭臻g問(wèn)題,就經(jīng)常直接集成在電池鋁合金沖壓外殼上,這樣以來(lái),在識(shí)別過(guò)程中,電子標(biāo)簽易受電池鋁合金金屬?zèng)_壓外殼的渦流干擾,致使RFID標(biāo)簽的實(shí)際有效讀距離大大縮短或者干脆就不發(fā)生響應(yīng),讀取徹底失敗。實(shí)踐證明這類干擾問(wèn)題是經(jīng)常發(fā)生的,我們需要采取一定的措施進(jìn)行預(yù)防。
RFID讀取失敗的原因分析及Amotech鐵氧體片抗干擾應(yīng)用的機(jī)制分析
對(duì)于常規(guī)的高頻RFID電子標(biāo)簽及識(shí)別系統(tǒng),在自由空間中沒(méi)有其它干擾源時(shí),其發(fā)生不讀取失效的機(jī)率很小,即便有,失效原因也常常是源于RFID系統(tǒng)中某個(gè)或某部分硬件/軟件,或標(biāo)簽的匹配等原因。在手機(jī)等手持式電子設(shè)備中,電子標(biāo)簽要集成或貼合到電子設(shè)備上,作為設(shè)備的一個(gè)部件發(fā)揮功能,往往因空間有限,不可避免要將RFID標(biāo)簽(通常是被動(dòng)式的)貼在金屬等導(dǎo)電物體表面或貼在臨近位置有金屬器件的地方。這樣來(lái),標(biāo)簽在讀卡器發(fā)出的信號(hào)作用下激發(fā)感應(yīng)出的交變電磁場(chǎng)很容易受到金屬的渦流衰減作用而使信號(hào)強(qiáng)度大大減弱,導(dǎo)致讀取過(guò)程失敗。因此,為了產(chǎn)品能夠更好的應(yīng)用讀卡,需要在產(chǎn)品中增加鐵氧體片。
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